Инженерные основы измерений нанометровой точности

Тип обложки: твердая

Страниц: 400

Вес: 0.521 кг

Год издания: 2012

ISBN: 978-5-91559-119-5, 978-0-08-096454-6

Цены в магазинах

Вы можете найти эту книгу здесь.

График изменения цены

На графике показано, как менялась цена на книгу "Инженерные основы измерений нанометровой точности".
Границы области показывают минимальную и максимальную цену в указанный день.

Краткое описание книги

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Книги с похожим названием

Часто можно найти ту же самую или очень похожую книгу среди книг со схожим названием. Это может быть и та же самая книга, но другого года издания или в дургом переплете.

Показать книги с похожим названием

Еще предложения магазинов

Посмотрите предложения магазинов, которые очень похожи на данную книгу. Это может быть та же самая книга, по каким-то причинам не указанная в списке цен выше, или другое ее издание. Так же тут будут книги с похожим названием.

Показать другие предложения магазинов